原華為測試經理、測試技術專家 陳博士 主講
時間地點：2009年8月22日（深圳） 2009年8月23日（廣州）
培訓費用：1600元/人（包含7小時的培訓、培訓教材、午餐、茶點、證書等）。
學員對象：電子信息企業系統工程師、研發部經理、測試部經理、制造技術部經理、新產品導入(NPI)經理，及研發工程師等
■ 課程背景
◇測試是產品從研發走向生產的必經階段,也是決定產品質量的重要環節,如何將測試工作開展的更全面、更仔細、更專業完善也是眾多電子通信企業所追求的目標。
◇建立可測試性設計是開發軟硬件系統的關鍵，尤其是那些對工作可靠性要求高的系統。
◇若沒有可測試性設計，在產品正式使用之前就很難發現設計缺陷，而且工作中出現的故障也很難檢測和診斷。
◇采用可測試性設計可以增加系統的可測試性，提高產品質量，并減少產品投放市場的時間及測試費用。
■ 課程收益
本課程介紹了業界先進的可測性設計的方法和實踐經驗，結合業界知名公司的成功實踐經驗和案例，采用模板演示講解和案例討論的方式，具體講述了可測性設計的方法和具體實踐經驗、操作技巧以及IT工具，著重于提高學員的產品測試實踐技能，注重課程的實操性，能有效地借鑒和快速地應用到實際工作中去。
學完本課程后，學員可獲得：
·深刻理解可測性設計(DFT)的基本思想和基本原理
·熟悉可測性設計(DFT)的基本業務流程
·全面掌握可測性設計(DFT)的設計方法
·有效構建可測性設計(DFT)的體系平臺和貨架技術
■ 講師介紹：陳博士（工學碩士，產品工程及測試工程資深講師）
曾任職華為公司、Adtran、 Xalted（China）等知名企業，7年以上大型企業研發及生產測試設計實踐經驗；先后擔任過硬件開發工程師、測試工程師、測試部經理等職位，主持建立華為公司DFT可測性技術研究平臺，擅長DFT、ATE等測試設計平臺的建立與應用，在可測性設計、自動化測試設備開發及生產測試策略研究等測試領域有深入研究與實踐應用經驗。
■ 課程內容
1、可測性設計(DFT)概述
產品生命周期V模型
電子信息產品測試所面臨的問題
什么是可測性設計(DFT)
※思考：如何深刻理解可測性設計(DFT)
可測性的物理特征表述
可測性的測度形式
※討論：以下各功能模塊的可測性測度是怎樣的？
可測性設計(DFT)的效益分析
可測性設計(DFT)基本要素
IPD模式下的DFT體系結構
可測性設計(DFT)基本過程
可測性設計(DFT)中常用術語及縮略語
2、可測性設計(DFT)需求
整機研發測試的可測性(DFT)需求來源
整機研發測試的可測性(DFT)需求
單板軟件研發測試的可測性(DFT)需求來源
單板軟件研發測試的可測性(DFT)需求
單板硬件研發測試的可測性(DFT)需求來源
單板硬件研發測試的可測性(DFT)需求
單板生產測試的可測性(DFT)需求來源
單板生產測試的抽象模型
※思考：單板生產測試的目的是什么？
單板生產測試路線
單板生產工藝測試基本原理
單板生產功能測試基本原理
單板生產測試的可測性(DFT)需求
※討論：本公司各產品適合的生產測試方案和路線是怎樣的？
JTAG在生產測試中的應用
JTAG在生產測試中的可測性設計(DFT)需求
單板維修可測性設計(DFT)需求
※思考：本公司生產維修有哪些診斷手段？
3、可測性設計(DFT)基本方法
輸入輸出通道設計——測試控制物理通道
輸入輸出通道設計——外部測試命令集
輸入輸出通道設計——測試控制管理
輸入輸出通道設計——測試信息存儲與輸出
輸入輸出通道設計——外部儀器輸入輸出接口
內置數據源設計——業務數據源自動生成
內置數據源設計——差錯數據源自動生成
內置數據源設計——容限/極限數據源自動生成
內置數據源設計——故障數據源自動生成
能控性設計——測試數據源的設置與啟動
能觀性設計——系統配置狀態監控
能觀性設計——系統業務狀態監控
能觀性設計——單板運行狀態監控
能觀性設計——系統資源狀態監控
能觀性設計——系統其它狀態監控
BIST設計——通道分層環回
BIST設計——故障診斷
BIST設計——初始化自檢
·案例解讀
4、單板可測性設計(DFT)必須考慮的要素
機械結構設計
自檢和自環設計
工裝夾具設計
測試點設計
芯片控制引腳設計
邊界掃描測試設計
EPLD/CPLD/FPGA設計
如何設計以減少測試點
5、可測性設計(DFT)工程實施
可測性設計(DFT)工程實施步驟
可測性設計(DFT)工程實施障礙
※交流與探討：如何構建可測性設計(DFT)體系和貨架技術 |
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